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2026/04/08

【研究成果】マルチビーム型の電子顕微鏡手法を新たに開発
～少ない測定点から高精細像を短時間で構成することが可能～

東京科学大学（Science Tokyo）物質理工学院 材料系の三宮工教授と日本電子株式会社の安原聡博士、東京大学 大学院情報理工学系研究科の堀﨑遼一教授らの研究チームは、走査透過電子顕微鏡において複数のビームを同時に照射するマルチビームを用いることで、少ないスキャンピクセルで高解像度な画像を再構成することに成功しました。

研究成果についての詳細は、東京科学大学HPをご覧ください。

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図：マルチビームを用いた走査透過電子顕微鏡法の模式図

論文情報

題名：Compressive multi-beam scanning transmission electron microscopy
著者名：Akira Yasuhara, Takumi Sannomiya, Ryoichi Horisaki
DOI:10.1016/j.ultramic.2026.114353
URL:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439912600046X

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